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材料研究学报  1993, Vol. 7 Issue (3): 234-239    
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ZrO_2薄膜的相结构与相稳定性
王英华;李晓萍
清华大学;清华大学
PHASE STRUCTURE AND STABILITY OF ZIRCONIA THIN FILMS
WANG Yinghua LI Xiaoping (Tsinghua University)
引用本文:

王英华;李晓萍. ZrO_2薄膜的相结构与相稳定性[J]. 材料研究学报, 1993, 7(3): 234-239.
, . PHASE STRUCTURE AND STABILITY OF ZIRCONIA THIN FILMS[J]. Chin J Mater Res, 1993, 7(3): 234-239.

全文: PDF(637 KB)  
摘要: 采用纯Zr、添Y_2O_3的ZrO_2和添MgO 的ZrO_2为靶材,以射频溅射方法生成ZrO_2薄膜。研究了这三个系列薄膜的物相结构,以及退火和研磨对物相结构的影响。研究表明,ZrO_2薄膜为单斜相,Y-ZrO_2和Mg-ZrO_2薄膜为单斜相和正方相,且以正方相为主。它们的退火规律也各不相同,这与稳定剂的加入与性质有关。同时研磨并未诱导正方相向单斜相的转变。
关键词 ZrO_2薄膜相结构薄膜    
Abstract:Zirconia thin films were deposited by r.f.magnetron reactive sputtering methodwith the pure metal Zr,compound Y-ZrO_2 and Mg-ZrO_2 targets.The phase structures of thethree series films were investigated,and the effect of annealing and stressing were studi
Key wordszirconia films    phase structure    thin films
收稿日期: 1993-06-25     
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