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材料研究学报  1991, Vol. 5 Issue (3): 247-251    
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低温 Hg 敏化光化学气相淀积 Si_3N_4薄膜
景俊海;孙青;付俊兴;孙建成
西安电子科技大学;西安电子科技大学;西安电子科技大学;西安电子科技大学
LOW-TEMPERATURE Hg SENSITIZED PHOTOCHEMICAL VAPOR DEPOSITED Si_3N_4 FILMS
JING Junhai SUN Qing FU Junxing SUN Jiancheng (University of Electronics Science and Technology of Xi'an)
引用本文:

景俊海;孙青;付俊兴;孙建成. 低温 Hg 敏化光化学气相淀积 Si_3N_4薄膜[J]. 材料研究学报, 1991, 5(3): 247-251.
, , , . LOW-TEMPERATURE Hg SENSITIZED PHOTOCHEMICAL VAPOR DEPOSITED Si_3N_4 FILMS[J]. Chin J Mater Res, 1991, 5(3): 247-251.

全文: PDF(379 KB)  
摘要: 用光-CVD 技术,在100—200℃的温度下,在Si 片上淀积出了Si_3N_4薄膜。本文研究了薄膜淀积速率与淀积参数的关系,讨论了淀积的Si_3N_4薄膜的物理性质、化学性质和力学性质。
关键词 低温Hg 敏化光化学气相淀积Si_3N_4薄膜    
Abstract:Si_3N_4 films have been deposited on Si wafers at temperature range of 100—200℃ by photo-CVD technique.This paper presents the relationship between the deposi-tion rate and other deposition parameters of the films.The physical,chemical and mechani-cal pro
Key wordslow-temperature    Hg sensitizing    photo-CVD    Si_3N_4    films
收稿日期: 1991-06-25     
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