软X射线质量吸收系数的测定

材料研究学报

1999, Vol. 13

Issue (6): 621-626

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软X射线质量吸收系数的测定

尚玉华;刘志东;徐乐英

中国科学院金属研究所

引用本文:

尚玉华; 刘志东; 徐乐英 . 软X射线质量吸收系数的测定[J]. 材料研究学报, 1999, 13(6): 621-626.

全文: PDF(665 KB)

摘要: 制备了厚度为25-225nm的C、Al、Ti、Cu、Nb、Mo、Ag、Ta和W 9种纯元素薄膜样品,用化学分析方法测定了薄膜的质量厚度$\rho z$,并用电子探针测定了软X射线CKα、BKα的出射强度I0和穿过薄膜后的强度I. 根据X射线通过物质时的指数衰减定律:I/I0= e{-μρ z},得到了这9种纯元素对CKα、BKα辐射的质量吸收系数μ,并与以往的数据进行比较.

关键词 ：质量吸收系数, 软X射线, 薄膜, 质量厚度

Key words：

收稿日期: 1900-01-01

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