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材料研究学报  2005, Vol. 19 Issue (5): 496-498    
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结构缺陷对电子束诱发纯铝表面熔坑的影响
关庆丰;安春香;张庆瑜;董闯;邹广田
吉林大学材料科学与工程学院与超硬材料国家重点实验室; 长春130025
Effect of structure defects on the surface craters induced by high current pulsed electron beam
引用本文:

关庆丰; 安春香; 张庆瑜; 董闯; 邹广田 . 结构缺陷对电子束诱发纯铝表面熔坑的影响[J]. 材料研究学报, 2005, 19(5): 496-498.

全文: PDF(1765 KB)  
摘要: 用Nadezhda-2强流脉冲电子束轰击不同预变形量的纯铝表面, 对铝表面的结构缺陷和轰击后产生的表面熔坑进行了系统的表征, 研究了表面熔坑与结构缺陷之间的关系. 结果表明, 结构缺陷对表面熔坑的形成有重要的影响, 熔坑的数量随着结构缺陷数量的增加而增加, 并且有沿晶界和高位错密度区择优形成的趋向, 结构缺陷是表面熔坑形成的萌芽. 另外, 强流脉冲电子束还能在晶界和滑移带上诱发出大量由于空位聚集而产生的孔洞.
关键词 材料表面与界面强流脉冲电子束结构缺陷    
Key words
收稿日期: 1900-01-01     
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