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材料研究学报  1992, Vol. 6 Issue (1): 60-63    
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用DC-PCVD装置在绝缘体蓝宝石上沉积TiN
杨川;吴大兴;高国庆
西南交通大学材料工程系;四川省成都市610031;西南交通大学;西南交通大学
DEPOSITION OF TiN ON INSULATOR ALUNDUM BY DC-PCVD INSTRUMENT
YANG Chuan;WU Daxing;GAO Guoqing(Southwest Jiaotong University)
引用本文:

杨川;吴大兴;高国庆. 用DC-PCVD装置在绝缘体蓝宝石上沉积TiN[J]. 材料研究学报, 1992, 6(1): 60-63.
, , . DEPOSITION OF TiN ON INSULATOR ALUNDUM BY DC-PCVD INSTRUMENT[J]. Chin J Mater Res, 1992, 6(1): 60-63.

全文: PDF(274 KB)  
摘要: 用直流等离子体化学气相沉积装置(简称DC-PCVD)在绝缘体蓝宝石上沉积了与基体结合力强的TiN,探讨了机制及影响成膜的因素。
关键词 DC-PCVD蓝宝石沉积    
Abstract:The thin film TiN that has been deposited on the insulation alundum by DCplasma chemical deposition(DC-PCVD)instrument has a strong adhesion to the substrate.The forming mechanism of thin film TiN and effect factor of the film quality have been dis-cussed
Key wordsDC-PCVD    alundum    deposition
收稿日期: 1992-02-25     
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