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材料研究学报  1989, Vol. 3 Issue (6): 549-552    
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单晶硅的电化学钝化
杨军;邓薰南;许六妹
上海科学技术大学化学系;上海市201800;上海科学技术大学;上海科学技术大学
ELECTROCHEMICAL PASSIVATION OF MONOCRYSTAL SILICON
YANG Jun DENG Xunnan XU Liumei (Shanghai University of Science and Technology)
引用本文:

杨军;邓薰南;许六妹. 单晶硅的电化学钝化[J]. 材料研究学报, 1989, 3(6): 549-552.
, , . ELECTROCHEMICAL PASSIVATION OF MONOCRYSTAL SILICON[J]. Chin J Mater Res, 1989, 3(6): 549-552.

全文: PDF(260 KB)  
摘要: 常温下,用电化学氧化法在单晶硅表面形成SiO_2钝化膜,钝化液可为有机溶液或纯水,控制电压能调节钝化膜厚度。测试并比较了钝化膜的基本性能。
关键词 单晶硅钝化钝化膜    
Abstract:Thin film of silicon dixide can be grown on the surface of sili-con by electrochemical oxidation at room temperature.The electrolyte for pa-ssivation may be organic solution or pure water.The thickness of oxidicfilm is changed by controlling the voltage.T
Key wordsmonocrystal silicon    passivation    passive film
收稿日期: 1989-12-25     
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