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材料研究学报  1997, Vol. 11 Issue (2): 207-208    
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直流反应磁控溅射法注积ZrN薄膜
吴大维;张志宏;罗海林;郭怀喜;范湘军
武汉大学;武汉大学;武汉大学;武汉大学;武汉大学
PROPERTIES OF THE ZIRCONIUM NITRIDE FILMS PREPARED BY REACTIVE MAGNETRON SPUTTERING
WU Dawei; ZHANG Zhihong; LUO Hailin; GUO Huaixi; FAN Xiangjun (Correspondent: WU Dawei; Department of Physics; Wuhan University; Wuhan 430072)
引用本文:

吴大维;张志宏;罗海林;郭怀喜;范湘军. 直流反应磁控溅射法注积ZrN薄膜[J]. 材料研究学报, 1997, 11(2): 207-208.
, , , , . PROPERTIES OF THE ZIRCONIUM NITRIDE FILMS PREPARED BY REACTIVE MAGNETRON SPUTTERING[J]. Chin J Mater Res, 1997, 11(2): 207-208.

全文: PDF(160 KB)  
摘要: 采用直流反应磁控溅射法淀积ZrN薄膜发现在(100)晶向硅片上ZrN薄膜按(111)晶向生长,控制生长工艺可以获得ZrN(111)晶向的外延生长膜.
关键词 ZrN薄膜DC反应磁控溅射外延生长薄膜电阻材料    
Abstract:ZrN films were deposited by reactive magnetron sputtering.The crystalline quality of ZrN films was investigated by X-ray diffraction. The results indicated the growth of zirconium nitride had the(l I l) orientation priority. Controlling the growth conditi
Key wordsZirconium nitride film DC reactive magnetron sputtering epitaxial growth film resistance material
收稿日期: 1997-04-25     
基金资助:国家自然科学基金!59571047
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