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材料研究学报  1998, Vol. 12 Issue (4): 369-374    
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微波等离子体化学气相淀积法生长取向性纳米氮化铝薄膜
孟广耀;谢松;彭定坤
中国科学技术大学材料科学工程系;合肥市;230026;中国科学技术大学;中国科学技术大学
THE PREMRAfION OF ORIENTED AlN NANOMETER THIN FILMS BY MICROWAVE PLASMA-ENHANCED CHEMICAL VAPOR DEPOSITION
XIE Song; MENG Guangyao; PENG Dingkun (Department of Materials Science and Engineering)University of Science and Technology of China; Hefei 230026)
引用本文:

孟广耀;谢松;彭定坤. 微波等离子体化学气相淀积法生长取向性纳米氮化铝薄膜[J]. 材料研究学报, 1998, 12(4): 369-374.
, , . THE PREMRAfION OF ORIENTED AlN NANOMETER THIN FILMS BY MICROWAVE PLASMA-ENHANCED CHEMICAL VAPOR DEPOSITION[J]. Chin J Mater Res, 1998, 12(4): 369-374.

全文: PDF(1080 KB)  
摘要: 采用微波等离子体增强的化学气相淀积法,在Si(111)衬底上生长了(002)择优取向良好的AIN纳米薄膜研究淀积参数对膜的形貌、物相结构和生长速率的影响,发现在一定条件下,该起积过程属于典型的输运控制过程采用表面吸附生长模型讨论了膜的生长机制
关键词 微波等离子体化学气相淀积氮化铝膜生长机制    
Abstract:By microwave plasma enhanced chemical vapor deposition we prepared highly (002) oriented AIN nanometer thin film on Si(111) substrate. The effect on sudece morphology. film structure and deposition rate at various deposition conditions had been researched
Key wordsmicrowave plasma    chemical vapor deposition    AIN film    growth mechanism
收稿日期: 1998-08-25     
基金资助:国家自然科学基金!29271031
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