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材料研究学报  1996, Vol. 10 Issue (1): 77-80    
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PZSN系压电陶瓷X射线衍射分析
孙文华;周静;崔万秋
武汉工业大学
STUDY ON PIEZOELECTRIC CERAMIC OF PZSN SYSTEM BY XRD
SUN Wenhua; ZHOU Jing; CUI Wanqiu (Wuhan University of Technology)
引用本文:

孙文华;周静;崔万秋. PZSN系压电陶瓷X射线衍射分析[J]. 材料研究学报, 1996, 10(1): 77-80.
, , . STUDY ON PIEZOELECTRIC CERAMIC OF PZSN SYSTEM BY XRD[J]. Chin J Mater Res, 1996, 10(1): 77-80.

全文: PDF(272 KB)  
摘要: 用X射线衍射法研究了Pb[(Zn1/3Nb2/3)(Sn1/3Nb2/3)](ZrTi)O3体系压电陶瓷的结构.探讨了微量元素掺杂对材料晶胞参数的影响,以及电极化前后的状况结果表明:样品均为四方相钙钛矿型结构;掺杂微量元素后晶胞参数略有变化;极化使角区发生90°旋转,微应变增加,表现为晶胞中晶面的峰强反转
关键词 压电陶瓷PZSN体系X射线衍射    
Abstract:The structure of piezoelectric ceramic in Pb[(Zn1/3Nb2/3)(Sn1/3Nb2/3)](Zr,Ti)O3 system was studied by XRD. The effect of added micro element to the lattice constants was also studied.The emphasis was the research of the situation of the samples unpoled an
Key words piezoelectric ceramic;PZSN system;XRD
收稿日期: 1996-02-25     
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