材料研究学报  1988, Vol. 2 Issue (1): 13-13

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背射穆斯堡尔谱(CEMS)方法研究离子辐照下的SnO_2,Fe_2O_3薄膜的结构变化行为

李健

清华大学

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李健. 背射穆斯堡尔谱(CEMS)方法研究离子辐照下的SnO_2,Fe_2O_3薄膜的结构变化行为[J]. 材料研究学报, 1988, 2(1): 13-13.
. [J]. Chin J Mater Res, 1988, 2(1): 13-13.

摘要 参考文献 相关文章 Metrics 全文: PDF(99 KB)   摘要: <正> CEMS方法是近几年来发展起来的用于测量薄膜材料微观化学信息,如化学键态,近邻配位情况等的新手段。将该方法与离子辐照固体表面的研究结合起来,以丰富人们有关固体材料的“辐照效应”的知识是一个有意义的探索。SnO_2和Fe_2O_3不仅是含穆斯堡尔元素的材料而且又在矿物学上分别代表两大类矿物结构,即Rutil和Wuslile结构。在离子辐照下将会引起化学键的断裂,使结构发生改变。而CEMS方法对研究这一现象是十分有效的。 收稿日期: 1988-02-25      服务 把本文推荐给朋友 加入引用管理器 E-mail Alert RSS 作者相关文章 李健 44.8K 链接本文: https://www.cjmr.org/CN/      或      https://www.cjmr.org/CN/Y1988/V2/I1/13 No related articles found! Viewed Full text Abstract Cited   Shared      Discussed